S. Selberherr

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Comparison of deposition models for a TEOS LPCVD process.

    S. Holzer, A. Sheikholeslami, M. Karner, T. Grasser, S. Selberherr

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 623-625

    

  • VSP ¿ A gate stack analyzer.

    M. Karner, A. Gehring, M. Wagner, R. Entner, S. Holzer, W. Goes, M. Vasicek, T. Grasser, H. Kosina, S. Selberherr

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 704-708

    

  • Modeling current transport in ultra-scaled field-effect transistors.

    V. Sverdlov, H. Kosina, S. Selberherr

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 11-19

    

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