Periodo de publicación recogido
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Geneviève Michils, Silke Hollants, Luc Dehaspe, J. van Houdt, Yannick Bidet, Nancy Uhrhammer, Yves Jean Bignon, Joris R. Vermeesch, Harry Cuppens, Gert Matthijs
The Journal of molecular diagnostics, ISSN 1525-1578, Vol. 14, Nº. 6, 2012, págs. 623-630
Distribution and generation of traps in SiO2/Al2O3 gate stacks.
I. Crupi, R. Degraeve, B. Govoreanu, D.P. Brunco, P. Roussel, J. van Houdt
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 525-527
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