Periodo de publicación recogido
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Reliability and performance of a true enhancement mode HIGFET for wireless applications.
C. Gaw, T. Arnold, E. Glass, R. Martin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1180-1187
Usar bases de datos heredadas en el Web
A. Bielefeld, R. Martin, B. Wachter
Byte España, ISSN 1135-0407, Nº. 32, 1997, págs. 94-96
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