S.-H. Hong

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• Artículos de revistas

  • Field failure mechanism and improvement of EOS failure of integrated IGBT inverter modules.

    Jin Su Jeong, S.-H. Hong, S.-D. Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1795-1799

    

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