P. Sandborn

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Using teardown analysis as a vehicle to teach electronic systems manufacturing cost modelling

    P. Sandborn, J. Myers, T. Barron, M. McCarthy

    The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 25, no. 1, 2009, págs. 42-52

    • Resumen
    

  • Introduction to special section on electronic systems prognostics and health management.

    P. Sandborn, M. Pecht

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 1847-1848

    

  • Life cycle cost impact of using prognostic health management (PHM) for helicopter avionics.

    E. Scanff, K.L. Feldman, S. Ghelam, P. Sandborn, M. Glade, B. Foucher

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 1857-1864

    

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