O. Kraft

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  • Fatigue and thermal fatigue damage analysis of thin metal films.

    G.P. Zhang, C.A. Volkert, R. Schwaiger, R. Mönig, O. Kraft

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2007-2013

    

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