Periodo de publicación recogido
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M.T. Do, Z. Tang, Malal Kane, François de Larrard
Bulletin des laboratoires des ponts et chaussées, ISSN 1269-1496, Nº. 267, 2007, págs. 31-48
Electrical measurements of voltage stressed Al2O3/GaAs MOSFET.
Z. Tang, P.D. Ye, D. Lee, C.R. Wie
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2082-2087
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