Periodo de publicación recogido
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Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)
D. Helmut, G. Wachutka, G. Groos
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 97-101
Testing semiconductor devices at extremely high operating temperatures.
P. Borthen, G. Wachutka
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1440-1443
A multiple window demonstration of the operation of PN diodes using devsim
D. Donoval, J. Racko, G. Wachutka, H. Baltes
The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 11, no. 1, 1995, págs. 36-45
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