Periodo de publicación recogido
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NBTI model development with regression analysis.
A.A. Katsetos, A.C. Brendler
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1498-1502
Negative bias temperature instability (NBTI) recovery with bake.
A.A. Katsetos
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 10, 2008, págs. 1655-1659
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