Periodo de publicación recogido
|
|
|
Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit
P.D. Reigosa, Francesco Iannuzzo, Munaf Rahimo, Frede Blaabjerg
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 485-489
Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off
Silvan Geissmann, L. De Michielis, Chiara Corvasce, Munaf Rahimo, M. Andenna
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 495-499
Munaf Rahimo, Frank Richter, Fabian Fischer, Umamaheswara Vemulapati, Arnost Kopta, Chiara Corvasce, Silvan Geissmann, Marco Bellini, Martin Bayer, Friedhelm Bauer
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 51-57
La conmutación se renueva: Avances recientes de las tecnologías de IGCT para la electrónica de alta potencia
Munaf Rahimo
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 4, 2016 (Ejemplar dedicado a: Transporte), págs. 67-71
Semiconductores de potencia: Pasado y presente de los semiconductores de potencia en ABB
Munaf Rahimo, Sven Klaka, Christoph Holtmann
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 2, 2016, págs. 55-59
Generaciones de semiconductores
Christoph Holtmann, Sven Klaka, Munaf Rahimo, Andreas Moglestue
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 3, 2014, págs. 84-90
El chip dos en uno: El transistor bimodal de puerta aislada (BIGT)
Munaf Rahimo, Liutauras Storasta, Chiara Corvasce, Arnost Kopta
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 2, 2013, págs. 19-23
La conmutación a un rendimiento superior: la evolución de la tecnología IGBT
Munaf Rahimo, Arnost Kopta
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 3, 2008 (Ejemplar dedicado a: Electrónica de potencia), págs. 19-24
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados