Periodo de publicación recogido
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Selvakkadunko Selvaratnam, Alwell J. Oyet, Yinqing Li, Veeresh Gadag
Canadian Journal of Statistics = Revue Canadienne de Statistique, ISSN 0319-5724, Vol. 45, Nº. 3, 2017, págs. 310-325
Progressively Censored Reliability Sampling Plans for the Weibull Distribution.
Uditha BALASOORIYA, Sutaip L.C. SAW, Veeresh Gadag
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 42, Nº 2, 2000, pág. 160
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