F. Jeuland

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Extraction of 3D parasitic capacitances in 90 nm and 22 nm NAND flash memories.

    J. Postel-Pellerin, F. Lalande, P. Canet, R. Bouchakour, F. Jeuland, L. Moracho

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1056-1059

    

  • Modeling charge variation during data retention of MLC Flash memories.

    J. Postel-Pellerin, F. Lalande, P. Canet, R. Bouchakour, F. Jeuland, L. Morancho

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1060-1063

    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.