Periodo de publicación recogido
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Impact and damage on deep sub-micron CMOS technology induced by substrate current due to ESD stress.
PH. Galy, S. Dudit, M. Vallet, C. Richier, C. Entringer, F. Jezequel, E. Petit, J. Beltritti
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1107-1110
Psycho-perceptive judgements on acoustical qualities in old Turkish mosques
M. Vallet, B. Vincent, C. Bertin, Zerhan Karabiber
Forum acusticum Sevilla 2002: 3rd European Congress on Acoustics Sevilla, 2002, ISBN 8487985068
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