H. Murakami
Periodo de publicación recogido
|
|
|
|
|
-
Artículos de revistas
A nonparametric location�scale statistic for detecting a change point.
H. Murakami
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 61, Nº. 5-8, 2012, págs. 449-456
A nonparametric control chart based on the Mood statistic for dispersion.
H. Murakami, T. Matsuki
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 49, Nº. 5-8, 2010, págs. 757-764
Laser THz emission microscope as a novel tool for LSI failure analysis.
M. Yamashita, C. Otani, S. Kim, H. Murakami, M. Tonouchi, T. Matsumoto, Y. Midoh, K. Miura, K. Nakamae, K. Nikawa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1116-1126
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
