Periodo de publicación recogido
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Radiated Harmonics Characterization of CMOS Test Chip with On-Chip Decoupling Capacitance
T. Sudo
IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 88, Nº 8, 2005, pág. 3195
Analysis of ABR Behavior over ATM-Based Broadband Access Networks
T. Ishihara, T. Sudo, M. Okuda, K. Nakamichi
IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 81, Nº 2, 1998, págs. 402-408
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