Periodo de publicación recogido
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A CMOS Temperature Sensor Circuit
T. Ohzone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 4, 2007, págs. 895-902
A Test Structure to Analyze Highly-Doped-Drain and Lightly-Doped-Drain in CMOSFET
K. Komoku, T. Matsuda, T. Ohzone, K. Okada, T. Morishita
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 9, 2006, págs. 1351-1357
A Test Structure for Two-Dimensional Analysis of MOSFETs by Hot-Carrier-Induced Photoemission
H. Iwata, T. Ohzone, K. Yamashita, N. Koike, T. Matsuda, H. Takeuchi, A. Muramatsu
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 811
A Temperature and Supply Voltage Independent CMOS Voltage Reference Circuit
H. Iwata, T. Ohzone, Shinnichiro Yamamoto, T. Ihara, T. Matsuda, R. Minami, A. Kanamori
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 1087
Temperature Dependence of Single Event Charge Collection in SOI MOSFETs by Simulation Approach
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 80, Nº 3, 1997, págs. 417-422
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