Yukiya Miura

• Artículos de revistas (6)

• Artículos de revistas

  • Ramp Voltage Testing for Detecting Interconnect Open Faults

    Yukiya Miura

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 700-705

    

  • Analysis and Testing of Bridging Faults in CMOS Synchronous Sequential Circuits

    Yukiya Miura

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 564-570

    

  • Analysis und Testing of Analog and Mixed-Signal Circuits by an Operation-Region Model

    Yukiya Miura

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1551-1557

    

  • An IDDQ Sensor Driven by Abnormal IDDQ

    Yukiya Miura

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 10, 2000, págs. 1860-1867

    

  • Fault behavior and change in internal condition of mixed signal circuits

    Yukiya Miura

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 4, 2000, págs. 943-946

    

  • An Analysis of the Realtionship between IDDQ Testability and D-Type Flip-Flop Structure

    Yukiya Miura, H. Yamazaki

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 10, 1998, págs. 1072-1078

    

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