Periodo de publicación recogido
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Atomic Scale Simulation of Extended Defects: Monte Carlo Approach
J. Lee, T. Won
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 8, 2000, págs. 1253-1258
An Advancing Front Meshing Algorithm Using NURBS for Semiconductor Process Simulation
O. Kwon, T. Won, S. Yoon, J. Lee
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 8, 2000, págs. 1349-1355
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