Periodo de publicación recogido
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Y. Akahori, A. Kaneko, K. Kato, R. Kasahara, R. Ito, T. Yamada, T. Hashimoto, T. Ohyama
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 5, 2001, págs. 685-692
M. Okazaki, M. Aoki, Y. Ueno, N. Sakakibara, T. Yamada
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 7, 1999, págs. 1172-1176
Study of LOCOS-Induced Anomalous Leakage Current in Thin Film SOI MOSFET's
M. Oose, T. Iinuma, T. Shino, T. Yamada, M. Yoshimi, Shinya Watanabe, S. Kawanaka, S. Onga, T. Okada
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 7, 1999, págs. 1341-1346
Optical Signal Inversion Phenomenon Derived from the Negative Nonlinear Absorption Effect in Er^3^+: LiYF~4
Y. Maeda, T. Yamada
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 9, 1998, pág. 1499
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