H. Komatsubara

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  • A Simplified Process Modeling for Reverse Short Channel Effect of Threshold Voltage of MOSFET

    K. Fukuda, H. Hayashi, N. Miura, H. Komatsubara

    IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 9, 2001, págs. 1234-1239

    

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