Periodo de publicación recogido
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A Redox Microarray-An Experimental Model for Molecular Computing Integrated Circuits-
M. Hiratsuka, S. Ikeda, T. Aoki
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 11, 2004, pág. 1804
A Site Specification Method of Gate Oxide Breakdown Spots by a New Test Structure of MOS Capacitors
S. Ikeda, H. Uchida, N. Hirashita
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 5, 2002, págs. 1134-1137
Distributed Optical Fiber Strain Sensor for Detecting River Embankment Collapse
S. Ikeda, M. Kihara, K. Hiramatsu, M. Shima
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 4, 2002, págs. 952-960
Mechanical Stress Simulation for Highly Reliable Deep-Submicron Devices
H. Miura, S. Ikeda
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 6, 1999, págs. 830-838
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