Periodo de publicación recogido
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H. Uchida, N. Yoneda, Y. Konishi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 11, 2008, págs. 1772-1777
Highly Stable 6-18 GHz 2.3 dB Low-Noise Amplifier with Resistive-Loaded Series Feedback Circuits
H. Uchida, M. Nakayama, H. Yukawa, Y. Tarui, K. Kanaya
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 12, 2003, pág. 2445
A Site Specification Method of Gate Oxide Breakdown Spots by a New Test Structure of MOS Capacitors
S. Ikeda, H. Uchida, N. Hirashita
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 5, 2002, págs. 1134-1137
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 11, 1999, págs. 2087-2093
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