InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Extreme (X-) testing with binary data and applications to reliability demonstration
David Mease, Vijayan N. Nair
Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 52, Nº. 3, 2007, págs. 351-352
Proportional integral derivative charts for process monitoring
Wei Jiang, Huaqing Wu, Fugee Tsung, Vijayan N. Nair, Kwok-Leung Tsui
Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 48, Nº. 3, 2003, págs. 241-244
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