S. Roy

• Artículos de revistas (3)
• Colaboraciones en obras colectivas (1)

• Artículos de revistas

  • Statistical aspects of reliability in bulk MOSFETs with multiple defect states and random discrete dopants.

    M.F. Bukhori, S. Roy, A. Asenov

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1549-1552

    

  • Statistical simulation of random dopant induced threshold voltage fluctuations for 35 nm channel length MOSFET.

    U. Kovac, D. Reid, C. Millard, S. Roy, A. Asenov

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1572-1575

    

  • Genetic algorithm-based state assignment scheme for synthesis of testable FSMs targeting area and delay

    U. Maulik, S. Bandyopadhyay, B.K. Sikdar, S. Roy

    International journal of engineering intelligent systems for electrical engineering and communications, ISSN 0969-1170, Vol. 10, Nº 1, 2002, págs. 45-52

    

• Colaboraciones en obras colectivas

  • Strip Dispersion Technique: Application for Strategic and Precious Metal Separation and Treatment of Wastewater Streams

    Anil Kumar Pabby, S. Roy, J. V. Sonawane, Francisco José Alguacil Priego, Ana María Sastre Requena

    Handbook of membrane separations :: chemical, pharmaceutical, food, and biotechnological applications / coord. por Anil Kumar Pabby, S.S.H. Rizvi, Ana María Sastre Requena, 2009, ISBN 9780849395499, págs. 1057-1070

    

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