Periodo de publicación recogido
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Impact of aging on the soft error rate of 6T SRAM for planar and bulk technologies
T. Rousselin, G. Hubert, D. Régis, M. Gatti, A. Bensoussan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 159-163
How to quantify and predict long term multiple stress operation: Application to Normally-Off Power GaN transistor technologies
A. Bensoussan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 103-112
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