Periodo de publicación recogido
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Trapping and reliability issues in GaN-based MIS HEMTs with partially recessed gate
Gaudenzio Meneghesso, Matteo Meneghini, Davide Bisi, Isabella Rossetto, Tian-Li Wu, Marleen Van Hove, Denis Marcon, Steve Stoffels, Stefaan Decoutere, Enrico Zanoni
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 151-157
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