Periodo de publicación recogido
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True dose rate physical mechanism of ELDRS effect in bipolar devices
V.S. Pershenkov, A.S. Petrov, A.S. Bakerenkov, V.N. Ulimov, V.A. Felitsyn, A.S. Rodin, V.V. Belyakov, V.A. Telets, V.V. Shurenkov
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 703-707
ELDRS in SiGe transistors for room and low-temperature irradiation
V.S. Pershenkov, A.S. Bakerenkov, V.A. Felitsyn, A.S. Rodin, V.A. Telets, V.V. Belyakov
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 56-59
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