Giacomo Garegnani
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Artículos de revistas
Wafer level measurements and numerical analysis of self-heating phenomena in nano-scale SOI MOSFETs
Giacomo Garegnani, Vincent Fiori, Gilles Gouget, Frederic Monsieur, Clement Tavernier
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 90-96
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