Muhammad Nawaz

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • On the short-circuit and avalanche ruggedness reliability assessment of SiC MOSFET modules

    Claudiu Ionita, Muhammad Nawaz, Kalle Ilves

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 6-16

    • Resumen
    

  • Evaluation of SiC MOSFET power modules under unclamped inductive switching test environment

    Muhammad Nawaz

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 97-103

    • Resumen
    

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