Magali Estrada

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  • On the series resistance in staggered amorphous thin film transistors

    A. Cerdeira, Magali Estrada, Lluís F. Marsal Garví, Josep Pallarès Marzal, Benjamín Iñiguez Nicolau

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 325-335

    • Resumen
    

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