Periodo de publicación recogido
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Design for reliability of generic sensor interface circuits
Sascha Heinssen, Theodor Hillebrand, Maike Taddiken, Konstantin Tscherkaschin, Steffen Paul, Dagmar Peters-Drolshagen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 184-197
Analysis of aging effects - From transistor to system level
Maike Taddiken, Nico Hellwege, Nils Heidmann, Dagmar Peters-Drolshagen, Steffen Paul
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 67, 2016, págs. 64-73
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