Periodo de publicación recogido
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Cluster-Based Profile Analysis in Phase I
Yajuan Chen, Jeffrey B. Birch, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 1, 47, 2015, págs. 14-29
Profile Monitoring via Nonlinear Mixed Models
Willis A. Jensen, Jeffrey B. Birch
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 41, Nº. 1, 2009, págs. 18-34
Monitoring Correlation Within Linear Profiles Using Mixed Models
Willis A. Jensen, Jeffrey B. Birch, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 40, Nº. 2, 2008, págs. 167-183
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