Periodo de publicación recogido
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The Difficulty in Designing Shewhart X-bar and X Control Charts with Estimated Parameters
Nesma A. Saleh, Mohamed A. Mahmoud, Matthew J. Keefe, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 2, 47, 2015, págs. 127-138
Cluster-Based Profile Analysis in Phase I
Yajuan Chen, Jeffrey B. Birch, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 1, 47, 2015, págs. 14-29
CUSUM Charts for Monitoring the Characteristic Life of Censored Weibull Lifetimes
Rebecca M. Dickinson, Denisa A. Olteanu Roberts, Anne R. Driscoll, William H. Woodall, G. Geoffrey Vining
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 46, Nº. 4, 2014, págs. 340-358
The Monitoring of Linear Profiles with a GLR Control Chart
Liaosa Xu, Sai Wang, Yiming Peng, S. P. Morgan, Marion R. Reynolds Jr., William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 44, Nº. 4, 2012, págs. 348-362
Anne G. Ryan, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 42, Nº. 3, 2010, págs. 260-275
Optimal Monitoring of Multivariate Data for Fault Patterns
George C. Runger, Russell R. Barton, Enrique del Castillo, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 39, Nº. 2, 2007, págs. 159-172
Using Control Charts to Monitor Process and Product Quality Profiles
Dan J. Spitzner, Shilpa Gupta, Douglas C. Montgomery, William H. Woodall
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 3, 2004, págs. 309-320
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