O. Alatise

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Impact of the gate driver voltage on temperature sensitive electrical parameters for condition monitoring of SiC power MOSFETs

    J. Ortiz-Gonzalez, O. Alatise

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 470-474

    • Resumen
    

  • Evaluation of the impact of the physical dimensions and material of the semiconductor chip on the reliability of Sn3.5Ag solder interconnect in power electronic module: A finite element analysis perspective

    P. Rajaguru, H. Lu, C. Bailey, J. Ortiz-Gonzalez, O. Alatise

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 68, 2017, págs. 77-85

    • Resumen
    

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