Periodo de publicación recogido
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Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip
Xuecheng Du, Shuhuan Liu, Dongyang Luo, Yao Zhang, Xiaozhi Du, Chaohui He, Xiaotang Ren, Weitao Yang, Yuan Yuan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 65-70
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