Weitao Yang

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Atmospheric neutron single event effect test on Xilinx 28 nm system on chip at CSNS-BL09

    Weitao Yang, Yonghong Li, Yang Li, Zhiliang Hu, Fei Xie, Chaohui He, Songlin Wang, Bin Zhou, Huan He, Waseem A. Khan, Tianjiao Liang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 99, 2019, págs. 119-124

    • Resumen
    

  • Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip

    Xuecheng Du, Shuhuan Liu, Dongyang Luo, Yao Zhang, Xiaozhi Du, Chaohui He, Xiaotang Ren, Weitao Yang, Yuan Yuan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 65-70

    • Resumen
    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.