Waseem A. Khan

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Atmospheric neutron single event effect test on Xilinx 28 nm system on chip at CSNS-BL09

    Weitao Yang, Yonghong Li, Yang Li, Zhiliang Hu, Fei Xie, Chaohui He, Songlin Wang, Bin Zhou, Huan He, Waseem A. Khan, Tianjiao Liang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 99, 2019, págs. 119-124

    • Resumen
    

  • Recursive Kinematics and Inverse Dynamics for a Planar 3R Parallel Manipulator

    Venkat N. Krovi, Subir K. Saha, Jorge Ángeles, Waseem A. Khan

    Journal of dynamic systems, measurement, and control, ISSN 0022-0434, Vol. 127, Nº. 4, 2005, págs. 529-536

    

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