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Improved on-chip self-triggered single-event transient measurement circuit design and applications
Rongmei Chen, Wei Chen, Xiaoqiang Guo, Chen Shen, Fengqi Zhang, Lisang Zheng, Wen Zhao, Lili Ding, Yinhong Luo, Hongxia Guo, Yuanming Wang, Yinong Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 99-105
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