Chen Shen

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  • Single-event multiple transients in guard-ring hardened inverter chains of different layout designs

    Wen Zhao, Chaohui He, Wei Chen, Rongmei Chen, Peitian Cong, Fengqi Zhang, Zujun Wang, Chen Shen, Lisang Zheng, Xiaoqiang Guo, Lili Ding

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 151-157

    • Resumen
    

  • Improved on-chip self-triggered single-event transient measurement circuit design and applications

    Rongmei Chen, Wei Chen, Xiaoqiang Guo, Chen Shen, Fengqi Zhang, Lisang Zheng, Wen Zhao, Lili Ding, Yinhong Luo, Hongxia Guo, Yuanming Wang, Yinong Liu

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 99-105

    • Resumen
    

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