Periodo de publicación recogido
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Modeling of time-dependent variability caused by Bias Temperature Instability
J. Martin Martinez, Manuel Moras, N. Ayala, Vikas Velayudhan, R. Rodriguez, M. Nafria, Xavier Aymerich Humet
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
TCAD study of interface traps-related variability in ultra-scaled MOSFETs
Vikas Velayudhan
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2016).
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