Área de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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E. Amat, Rosana Rodríguez Martínez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, J.H. Stathis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 544-547
Software SCRATCH para mejorar la motivación y aprendizaje de alumnos de Ingeniería: experiencia real y propuestas de mejora
Rosana Rodríguez Martínez, Antoni Morell, Javier Martín Martínez
Actas del Congreso Virtual: Avances en Tecnologías, Innovación y Desafíos de la Educación Superior ATIDES 2018 / coord. por Ana M. Arnal Pons, Sergio Barrachina Mir, Joaquín José Castelló Benavent, Irene Epifanio López, Carlos Galindo Pastor, Pablo Gregori Huerta, Ana María Lluch Peris, Vicente Martínez García, 2018, ISBN 978-84-17429-54-6
Rosana Rodríguez Martínez
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2000).
Tesis doctoral dirigida por Javier Martín Martínez (dir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2019).
Analysis of the resistive switching phenomenon in MOS devices for memory and logic applications /
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2017).
Advanced nanoscale characterization concepts for copper interconnection technologies /
Tesis doctoral dirigida por Günther Benstetter (codir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2017).
TCAD study of interface traps-related variability in ultra-scaled MOSFETs
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2016).
Tesis doctoral dirigida por Javier Martín Martínez (dir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2012).
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2009).
Degradació del stack dielèctric de porta sio2/high-k en dispositius mos: bti i portadors calents¿¿degradació del stack dielèctric de porta sio2/high-k en dispositius mos: bti i portadors calents
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2009).
Ruptura dielectrica y nbti en dispositivos y circuitos cmos nanoelectrónicos
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2007).
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