Albert Crespo Yepes

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• Artículos de revistas

  • Reversible dielectric breakdown in ultrathin Hf based high-k stacks under current-limited stresses.

    Albert Crespo Yepes, J. Martin-Martinez, R. Rodriguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1024-1028

    

• Tesis

  • Estudio de la reversibilidad de la ruptura dieléctrica en dispositivos MOS con dieléctrico de puerta high-k ultra delgado

    Albert Crespo Yepes

    Tesis doctoral dirigida por Javier Martín Martínez (dir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2012).

    • Resumen
    • Tesis en acceso abierto en:  TDX  DDD  TESEO 
    

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