Área de conocimientoAclaración de materia/profesión
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Controlabilidad en E-Beam Testing: optimización de célula detectora
Jordi Madrenas Boadas, Ramón BOSCH, Joan Cabestany Moncusí
VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 83-88
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