Periodo de publicación recogido
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He Wang, Pan Zhao, Hong Yang, Jipeng Chang, Dengyuan Song, Shiyu Sang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 320-327
Hong Yang, Fumei Wang, He Wang, Jipeng Chang, Dengyuan Song, Chengfeng Su
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 18-23
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