págs. 1-1
págs. 1-4
págs. 5-17
págs. 18-23
págs. 24-29
Temperature impact on inductance and resistance values of a coreless inductor (Cu/Al2O3)
N. Doumit, B. Danoumbé, S. Capraro, J. P. Chatelon, M.-F. Blanc-Mignon, J.-J. Rousseau
págs. 30-33
A new erase method for scaled NAND flash memory device
Chan-Ching Lin, Kuei-Shu Chang-Liao, Tzung-Bin Huang, Cheng-Jung Yu, Hsueh-Chao Ko
págs. 34-38
págs. 39-44
págs. 45-64
págs. 65-74
págs. 75-79
Effective work-function control technique applicable to p-type FinFET high-k/metal gate devices
Shimpei Yamaguchi, Zeynel Bayindir, Xiaoli He, Suresh Uppal, Purushothaman Srinivasan, Chloe Yong, Dongil Choi, Manoj Joshi, Hyuck Soo Yang, Owen Hu, Srikanth Samavedam, D.K. Sohn
págs. 80-84
págs. 85-89
págs. 90-97
págs. 98-102
1D and Q2D thermal resistance analysis of micro channel structure and flat plate heat pipe
Shao-Wen Chen, Wan-June Chiu, Min-Song Lin, Feng-Jiun Kuo, Min-Lun Chai, Jin-Der Lee, Jong-Rong Wang, Hao Tzu Lin, Wei-Keng Lin, Chunkuan Shih
págs. 103-114
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