Periodo de publicación recogido
|
|
|
Investigations and detections on a new BEOL dielectric failure mechanism at advanced technologies
Wei Ting Kary Chien, Yong Zhao, Jiwen Zhang, Zhijuan Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 368-372
Exploration of baking temperature effects on 28 nm BEOL reliability
XiangFu Zhao, Wei Ting Kary Chien
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 1-4
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados