Zhijuan Wang

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  • Investigations and detections on a new BEOL dielectric failure mechanism at advanced technologies

    Wei Ting Kary Chien, Yong Zhao, Jiwen Zhang, Zhijuan Wang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 368-372

    • Resumen
    

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