Periodo de publicación recogido
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Investigations and detections on a new BEOL dielectric failure mechanism at advanced technologies
Wei Ting Kary Chien, Yong Zhao, Jiwen Zhang, Zhijuan Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 368-372
Unifying C-curves and H-curves by extending the calculation to complex numbers
Frank-L. Krause, Jiwen Zhang, Huaiyu Zhang
Computer aided geometric design, ISSN 0167-8396, Nº. 9, 2005, págs. 865-883
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