Periodo de publicación recogido
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Limitation of switching-self-clamping-mode “SSCM” in high voltage IGBTs
Cailin Wang, Wuhua Yang, Jing Yang, Lei Zhang, Ruliang Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 96, 2019, págs. 1-6
Inhibition of peak electric field shifting on current filaments of high voltage diode
Cailin Wang, Lei Zhang, Jing Yang, Wuhua Yang, Qi Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 94, 2019, págs. 13-18
Study on the destruction mechanism caused by dynamic avalanche in GCTs
Wuhua Yang, Cailin Wang, Jing Yang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 34-41
Influence of carrier lifetime distribution on the current filament in high voltage diode
Lei Zhang, Cailin Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 75-79
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