Periodo de publicación recogido
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Low-voltage triggering SCRs for ESD protection in a 0.35 μm SiGe BiCMOS process
Liu Jizhi, Zeng Yaohui, Liu Zhiwei, Zhao Xianming, Cheng Hui, Liu Nie
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 122-128
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